常用的平板平面度檢定方法有兩大類(lèi)：直接測(cè)量法和間接測(cè)量法。

直接測(cè)量法是直接獲得平面各點(diǎn)偏差值或直接評(píng)定平面度誤差值。這種測(cè)量方法可直接得到線值結(jié)果，因此也叫線差法。屬于這類(lèi)測(cè)量方法的有刀口直尺或平尺的墊塞法，標(biāo)準(zhǔn)平板的打表法，激光準(zhǔn)直儀測(cè)量法。

間接測(cè)量法是利用水平儀或自準(zhǔn)直儀在被測(cè)平面若干個(gè)測(cè)量截面上，以節(jié)距法進(jìn)行測(cè)量，得到各被測(cè)瞇相對(duì)于測(cè)量基準(zhǔn)（水平面或光軸直線）的傾斜角度，在取得結(jié)果時(shí)，將角值表示的量值換算為以線值表示的量值。這種方法以人義器中讀得的數(shù)值的角度值，因此也叫角差法。屬于這類(lèi)方法的有水平儀法和自準(zhǔn)直儀法。